芯片检测仪功能

激发光：                　　
芯片检测仪激发光应直接射向微阵列上的待测样品，通过大量一次照明的方式，待测样品的大部分区域同时受到激发，这种方式在CCD数码相机中较常见，该方式的缺陷是待测样品受到的激发光不够均匀一致。这点是芯片检测仪设计者须考虑到的重要因素之一。                　　
激发光聚焦于样品的很小部分，采用特定的光线采集和定位，聚焦点上的激发光光线密度较高，大约为10000watt/cm2。芯片检测仪激发光波长的选择是依据染料的激发曲线和释放曲线的峰值来确定的，在染料激发峰值的左边且激发效率较高的范围内，在某种染料水平下，激发效率越低，要达到某种光强，则需要向样品上发射的光越多。过多的发射光将通过光漂白作用破坏样品和污染干扰释放光的信号。                　　
释放光采集：                　　
荧光由目镜的镜头来采集，该镜头聚焦于样品上并将一定区域内的光线收集到装置。收集的角度区域的大小非常关键，荧光释放是球形的，目镜对荧光的采集范围是决定芯片检测仪的采集效率关键指标之一。目镜采集光的角度由数值孔径来表示，数值孔径与光采集效率之间具有一定的变化关系。                　　
当数值孔径为1.0时，目镜将收集到整个半球的光，相应的光采集效率为50%。许多激光共聚焦微阵列芯片检测仪的数值孔径在0.5~0.9，而CCD芯片检测仪的数值孔径为0.2~0.5。                　　
有其他类型的芯片检测仪不用目镜而是使用积分球面镜来采集释放的部分光源，但是部分光线经过多次球面反射而衰减。还有一些无散光收集装置，仅仅是将探测器放在样品的某一区域的上方，光线采集的效率受限于样品被照明处的范围及探测器的视角。                　　
空间定位：                　　
空间定位可通过多元素探测器，如CCD或机械芯片检测仪。许多相机设置